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| 品牌 | TaylorHobson/英國泰勒霍普森 | 產地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 化工,電子/電池,包裝/造紙/印刷,航空航天,汽車及零部件 |
泰勒原廠銷售Surtronic S-116小型粗糙度儀
Surtronic S116泰勒粗糙度儀是Surtronic S100 系列的標準產品，堅固耐用，性能*的表面粗糙度測量儀，因為體型小巧便于重量輕，所以方便攜帶。多樣化的系統和應用相關的配件，滿足您的特殊需求，大容量鋰聚合物電池， 一次充電后可進行至少2000次測量，充滿電后待機能力長達5000個小時。
Surtronic S-116小型粗糙度儀特點介紹：
一個50mm長的測針升降裝置和直角附件
360度任意旋轉，任何方向任何高度測量
輕觸快捷鍵即可進行所有關鍵設置。
迷你USB 2.0用于充電或連接電腦傳輸數據。
A類型USB 2.0可連接便攜式打印機或USB存儲設備。
防滑的V型腳架設計使系統能夠用在平滑或彎曲的平面上。
測針還能夠反方向底部測量。
泰勒原廠銷售Surtronic S-116小型粗糙度儀技術規格：
測量范圍：200 um 100 um 10 um
分辨率： 100 nm 20 nm 10 nm
底噪(Ra)：250 nm 150 nm 100 nm
重復精度 (Ra) ：1%測試值+底噪
傳感器原：電感
測量力：150-300mg
測針針尖半徑：標配5 μm (200 μin) 可選2μm(80μin)或10μm(400μin)
測試參數：
三個取樣長度：0.25mm、0.8mm、2.5mm
二個濾波器：2CR、Gaussian
評定長度：0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可選
zui大行程：17.5mm
執行標準：ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007
ISO標準可以測量12個參數： Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max
ASME標準可以測量11個參數：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda
JIS標準可以測量14個參數：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc
