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篤摯儀器（上海）有限公司
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菲希爾XDL系列測厚儀技術(shù)領(lǐng)域信息
更新時間：2025-09-10 點擊次數(shù)：255次
XDL系列采用能量色散X射線熒光（EDXRF）技術(shù)，通過高穩(wěn)定性微型X射線管激發(fā)樣品表面，使待測元素產(chǎn)生特征X射線熒光。探測器接收并分析不同元素的特征譜線能量與強(qiáng)度，結(jié)合菲希爾有的FISCHERSCOPE®分析軟件，實現(xiàn)對鍍層厚度及成分的精確反演計算。
應(yīng)用領(lǐng)域
電鍍與表面處理：精確測量Ni、Cr、Au、Ag、Sn、Zn、Cu等單層或多層金屬鍍層厚度。
PCB與半導(dǎo)體：檢測焊盤鍍金、OSP涂層、ENIG（化學(xué)鎳金）等關(guān)鍵工藝參數(shù)。
汽車零部件：評估發(fā)動機(jī)部件、緊固件、連接器的防腐鍍層質(zhì)量。
珠寶與貴金屬：無損鑒定K金純度、鍍層厚度及合金成分。
德國菲希爾XDL系列X射線熒光測厚儀集精密光學(xué)、先進(jìn)探測技術(shù)與智能軟件于一體，代表了當(dāng)前非破壞性涂層分析較高水平。
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